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    固體表面電位儀動態技術分析

    更新時間:2018-07-30      點擊次數:1995
       固體表面電位儀動態技術分析
      
      固體表面電位儀DelsaNanoC/SS是目前惟一的應用電泳光散射及動態光散射原理,同時提供顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分析儀。DelsaNnaoC/SS通過特別設計的固體平板樣品池,有效地為固體材料、纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產提供的、多用途的分析工具。
      
      使用動態(流動氣體)分析技術,可完成化學吸附(分散度、活性金屬面積、晶粒尺寸、表面酸性和脈沖化學吸附)和物理吸附(單點BET表面積,Langmuir表面積,總
      
      多功能自動化程序升溫化學吸附儀
      
      多功能自動化程序升溫化學吸附儀[2]圖冊
      
      孔體積)。具有更高的精度、測量速度快、可適用多種實驗等優勢。
      
      固體表面電位儀針對各種形狀的固體
      
      各種不同的測量池適用于天然的和人造的纖維和織物、顆粒樣品、粗顆粒和平板樣品。
      
      突破極限-流動奧妙
      
      快速測量:
      
      Zeta電位測量少于2分鐘
      
      表面Zeta電位直接分析:
      
      適用于實際樣品,無需使用示蹤顆粒
      
      

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